2017/9/21　岩田太教授（静岡大学）をお招きして、セミナーを行います。

タイトル「走査型イオン伝導顕微鏡の紹介と複数開口ナノピペットプローブを用いた応用」

2017/9/20　精密工学会でキーノート講演を行います。

発表者　大塚洋一
タイトル「走査型プローブエレクトロスプレーイオン化質量分析法の開発とラベルフリー質量イメージング」

2017/7/10-13 IPOE2017 (有機エレクトロニクスにおける界面物性に関する国際会議)で発表します。

発表者：荒木健人
タイトル：Imaging of Photo-Excited Charges using Micro-second Time-resolved Electrostatic Force Microscopy.

発表者：大塚洋一
タイトル：Nonlinear Electrical Properties of Dinuclear Ruthenium Complex Monolayer by Conductive Probe Atomic Force Microscope
 
発表者：松本卓也
タイトル：Conjugated Electrical Properties of Au Nanoparticle-Polyaniline Network
 

2017/9/5-8 応用物理学会で発表します。

発表者：荒木健人
タイトル：時間分解静電気力顕微鏡による光励起電荷の可視化

発表者：西嶋知史
タイトル：ダブルジャンクション型ナノ電極を用いた
Ru錯体分子膜の非線形電気伝導特性

発表者：江藤理杏
タイトル：ナノピペットを用いた
C8-BTBTのメゾスコピック分子パターニング法の検討

2017/7/10-13 IPOE2017 (有機エレクトロニクスにおける界面物性に関する国際会議)で発表します。

発表者：荒木健人
タイトル：Imaging of Photo-Excited Charges using Micro-second Time-resolved Electrostatic Force Microscopy

2017/6/29-30 Wilfred G.van der Wiel先生をお招きしてワークショップが開催されます。

詳細は以下のリンクから
http://nanochem.jp/nanochemwp/wp-content/uploads/Workshop学外案内用プログラム.pdf

2017/6/28 M&Be(分子エレクトロニクス＆バイオエレクトロニクス国際会議)で招待講演を行います。

発表者：松本卓也
タイトル　Network-based Molecular Electronics

IPOE-2017(有機エレクトロニクス界面特性に関する国際会議)で発表します。

発表者：荒木健人
　　　　松本卓也
　　　　大塚洋一

2017/6/26-28 M&Be(分子エレクトロニクス＆バイオエレクトロニクス国際会議)で発表します。

発表者：宇佐美雄生
タイトル：Conjugated Electrical Properties of Au Nanoparticles-Polyaniline Network
　　　　
発表者：西島知史
タイトル：Non-linear I-V Characteristics of Ru Complex Layers with
a Double Junction Nanogap Electrode

発表者：大塚洋一
タイトル：Nonlinear Electrical Properties of Dinuclear Ruthenium Complex Monolayer by Conductive Probe Atomic Force Microscope

2017/5/16-19 ISPM-2017(第19回走査プローブ顕微鏡国際会議)で発表します

発表者：荒木健人
タイトル：Micro-second Time-resolved Electrostatic Force Microscopy
発表者：大塚洋一
タイトル：Scanning Probe Electrospray Ionization (SPESI) for Surface Chemical Analysis – the Fast Derivatization of Steroid　
発表者：高木大敬　
タイトル：Nonlinear Electrical Properties of Ru Binuclear Complex Monolayer by Conductive Probe AFM
発表者：山田将也
タイトル：Probing Electronic Alignment between Organic Dye Molecule and Gold Film Interface by Kelvin Probe Force Microscopy